常常采用的方法有金相法、X-ray方法
金相法：采用金相顯微鏡檢測(cè)橫斷面，以測(cè)量金屬覆蓋層、氧化膜層的局部厚度的方法。一般厚度檢測(cè)需要大于1um，才能保證測(cè)量結(jié)果在誤差范圍之內(nèi)；厚度越大，誤差越小。
X-ray法：適用于測(cè)定電鍍及電子線路板等行業(yè)需要分析的金屬覆蓋層厚度。 包括：金（Au），銀（Ag），錫（Sn），銅（Cu），鎳（Ni），鉻（Cr）等金屬元素厚度。
■鍍層厚度
■涂層厚度
■復(fù)合鍍層厚度
■涂層附著力
檢測(cè)設(shè)備
x熒光膜厚儀
金相顯微鏡等
